ANÁLISE ELEMENTAR · SPECTRO ANALYTICAL

Espectrômetro EDXRF de pequeno spot

SPECTRO MIDEX

Espectrômetro EDXRF de bancada otimizado para análise de metais preciosos, pequenas peças, revestimentos e screening de conformidade. Combina medição não destrutiva, alta sensibilidade, excelente resolução e análise localizada por pequeno spot para aplicações que exigem precisão e rapidez.

Laboratório

> 30 elementos

Ampla cobertura analítica com calibrações de fábrica para elementos majoritários, minoritários e traços.

Até 3× mais sensibilidade

A quinta geração apresenta sensibilidade significativamente superior às versões anteriores.

Spot a partir de 0,2 mm

Análise localizada de pequenas áreas, componentes, joias e regiões específicas da amostra.

A partir de 15 s

Tempos de medição muito rápidos em aplicações de metais preciosos.

Solicitar orçamento Falar com um especialista
SPECTRO MIDEX - Espectrômetro EDXRF
0,2 mm
spot mínimo
15 s
tempo a partir de
Veja em operação
Os fundamentos do XRF

Descrição

O SPECTRO MIDEX é um espectrômetro de fluorescência de raios X por dispersão de energia (EDXRF) desenvolvido para análises localizadas e não destrutivas. Seu sistema de pequeno spot permite avaliar regiões específicas da amostra com elevada precisão, sendo especialmente indicado para metais preciosos, joias, pequenas peças, revestimentos, componentes eletrônicos e aplicações de compliance.

Alta precisão para metais preciosos

O MIDEX é amplamente utilizado em laboratórios de ensaio, refinarias, centros de hallmarking, joalherias e operações de reciclagem de metais preciosos. A combinação de alta resolução, elevada taxa de contagens e calibrações dedicadas permite determinar com precisão ouro, prata, platina, paládio e outros componentes, inclusive em concentrações minoritárias e traço.

Pequeno spot e análise de superfícies

O sistema de vídeo integrado permite posicionar com precisão o ponto de medição. Dependendo da aplicação, o MIDEX pode trabalhar com spots muito pequenos, permitindo analisar joias, fios, soldas, componentes, revestimentos e regiões específicas de materiais heterogêneos. O equipamento também pode realizar mapeamento de áreas de até aproximadamente 233 × 160 mm.

Fabricante: SPECTRO Analytical
Solicitação

Dimensione a solução

Conte seu desafio analítico — nossos especialistas respondem com a configuração certa.

Solicitar orçamento
Colocar na cotação
Solicitar peça ou serviço
Agendar treinamento
Suporte técnico
Cotação B2B sem compromisso — preço sob consulta, conforme sua aplicação e volume.
POR DENTRO

Principais características

Pequeno spot de análise

Permite medições localizadas com spots reduzidos, chegando a 0,2 mm em aplicações específicas, aumentando a capacidade de análise de pequenas peças e regiões específicas da amostra.

Alta sensibilidade e resolução

Detector Silicon Drift Detector (SDD) de alta resolução e elevada taxa de contagens, proporcionando excelente desempenho tanto para elementos majoritários quanto para menores e traços.

Sistema de vídeo integrado

Permite visualizar, selecionar e documentar exatamente o ponto analisado, aumentando a rastreabilidade e a confiança em medições de pequenas áreas.

Análise não destrutiva

A tecnologia EDXRF possibilita determinar a composição elementar sem consumir ou danificar a amostra, característica especialmente importante para joias e metais de alto valor.

Mapeamento e análise de revestimentos

O MIDEX pode realizar mapeamento rápido de superfícies e também ser utilizado na determinação de composição e espessura de revestimentos metálicos.

MÉTODOS ANALÍTICOS

Normas e métodos de referência

A tecnologia EDXRF do SPECTRO MIDEX é aplicável a métodos internacionais para análise de metais preciosos, revestimentos e screening de substâncias reguladas.

ISO 23345:2021

Metais preciosos e joalheria — confirmação não destrutiva do teor de metais preciosos por EDXRF.

IEC 62321-3-1

Screening de Pb, Hg, Cd, Cr total e Br total em produtos eletrotécnicos no contexto de conformidade RoHS.

ASTM B568

Determinação da espessura de revestimentos por espectrometria de raios X.

DIN EN ISO 3497

Determinação de espessura de revestimentos metálicos por métodos espectrométricos de raios X.

FICHA TÉCNICA

Especificações

  • Tecnologia EDXRF — Fluorescência de Raios X por Dispersão de Energia
  • Aplicação principal Metais preciosos, pequenos componentes, revestimentos e compliance
  • Detector Silicon Drift Detector — SDD
  • Fonte de excitação Tubo de raios X de 40 W, ânodo de molibdênio
  • Tensão máxima 50 kV
  • Spot de análise Tipicamente 1,2 mm para metais preciosos; spots menores até aproximadamente 0,2 mm em aplicações específicas
  • Tempo de análise A partir de aproximadamente 15 segundos, dependendo da aplicação
  • Sistema de posicionamento Vídeo integrado para visualização e documentação do ponto analisado
  • Área de mapeamento Até aproximadamente 233 × 160 mm
  • Mesa de amostras Ajustável
  • Dimensões (A × L × P) Aproximadamente 540 × 555 × 470 mm
  • Peso Aproximadamente 50 kg
  • Alimentação elétrica 95–120 V / 200–240 V · 50/60 Hz
  • Consumo elétrico Aproximadamente 200 W
  • Sistema de avaliação Computador externo com Windows
  • Software Software SPECTRO para controle do instrumento e avaliação dos resultados
  • Calibração Pacotes dedicados e programa de Parâmetros Fundamentais FP+
ANTES DE DECIDIR

Dúvidas comuns sobre o produto

O MIDEX é especialmente indicado para metais preciosos, joias, pequenas peças, revestimentos, componentes eletrônicos e screening de substâncias reguladas, onde análise localizada e não destrutiva é importante.
Não. A análise por EDXRF é não destrutiva, permitindo avaliar materiais de alto valor sem consumir ou alterar a peça analisada.
Em aplicações específicas, o equipamento pode trabalhar com spots de aproximadamente 0,2 mm. Para metais preciosos, a SPECTRO destaca um spot típico em torno de 1,2 mm.
Sim. A tecnologia pode ser utilizada para determinar composição e espessura de camadas metálicas, incluindo aplicações como revestimentos de ródio sobre ouro branco.
PARA LEVAR À DECISÃO

Downloads

SPECTRO MIDEX — METAIS PRECIOSOS

Análise rápida e não destrutiva de ouro, prata, platina, paládio e outras ligas de metais preciosos.
ACESSAR

SPECTRO MIDEX — RoHS

Screening de substâncias restritas em polímeros, componentes eletrônicos e materiais compostos.
ACESSAR

SPECTRO XRF Layers

Determinação de composição e espessura de revestimentos e estruturas multicamadas.
ACESSAR

SPECTRO MIDEX — MANUAL DO USUÁRIO

Informações completas de instalação, operação e manutenção do equipamento.
baixar
Continue explorando

Produtos relacionados

SPECTRO xSORT - Espectrômetro de fluorescência de raio-x portátil

SPECTRO xSORT – Espectrômetro de fluorescência de raio-x portátil

Explorar produto
SPECTRO XEPOS - Um analisador elementar – Espectrometria por ED-XRF

SPECTRO XEPOS – Um analisador elementar – Espectrometria por ED-XRF

Explorar produto
SPECTROCUBE - Espectrômetro de fluorescência de raio-x ED-XRF

SPECTROCUBE – Espectrômetro de fluorescência de raio-x ED-XRF

Explorar produto
APLICAÇÕES RELACIONADAS

Aplicações doSPECTRO MIDEX

Metais preciosos

Metais preciosos e joalheria

Análise de ouro, prata, platina e outras ligas, com verificação de pureza, hallmarking e controle de refinarias.

Consultar aplicações
Revestimentos

Revestimentos e pequenas peças

Determinação de composição e espessura de revestimentos com análise EDXRF localizada de pequeno spot.

Consultar aplicações
Biblioteca técnica

Aplicações SPECTRO MIDEX

Consulte aplicações em metais preciosos, joalheria, revestimentos e compliance, com exemplos de métodos, calibrações e resultados.

Consultar aplicações