ANÁLISE ELEMENTAR · SPECTRO ANALYTICAL

Espectrômetro EDXRF de alto desempenho

SPECTRO XEPOS

Espectrômetro de fluorescência de raios X por dispersão de energia (EDXRF) de alto desempenho para análises multielementares de elementos majoritários, minoritários e traços. Desenvolvido para aplicações exigentes de controle de qualidade, pesquisa e caracterização de materiais sólidos, líquidos e pós, com alta sensibilidade, rapidez e mínima preparação de amostra.

Laboratório

4 configurações

XEPOS D · XEPOS C · XEPOS P · XEPOS HE

1–2 minutos

Diversas análises podem ser concluídas em poucos minutos, com a geração atual oferecendo tempos de medição até 2× menores.

TurboQuant II

Screening multielementar de amostras desconhecidas, incluindo sólidos, líquidos e pós.

Até 8 camadas

Análise de espessura e composição de até 8 camadas e 55 elementos em aplicações multicamadas.

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SPECTRO XEPOS - Espectrômetro
4 configurações
D · C · P · HE
1–2 minutos
análises rápidas
Veja em operação
SPECTRO TurboQuant – 4:29 min

Descrição

O SPECTRO XEPOS é um espectrômetro EDXRF de bancada desenvolvido para aplicações que exigem alta precisão, baixos limites de detecção e ampla faixa de concentrações. A tecnologia permite determinar simultaneamente elementos majoritários, minoritários e traços em amostras como minérios, solos, cimentos, produtos químicos, óleos, combustíveis, alimentos, materiais ambientais e produtos industriais.

Excitação otimizada para cada aplicação

O sistema utiliza excitação adaptativa, combinando tubo de raios X, polarização e filtros específicos conforme a configuração do equipamento. As versões XEPOS C, P e HE utilizam polarizador HAPG para aumentar a sensibilidade dos elementos leves na região de Na a Cl, enquanto as versões P e HE adicionam filtro band-pass para melhor desempenho especialmente entre K e Mn.

De amostras desconhecidas ao controle quantitativo

O TurboQuant II permite realizar análises de screening mesmo quando a composição da amostra não é previamente conhecida, trabalhando com líquidos, sólidos ou pós. Para aplicações quantitativas específicas, o equipamento também pode utilizar métodos de parâmetros fundamentais, calibrações dedicadas e pacotes desenvolvidos para diferentes matrizes.

Fabricante: SPECTRO ANALYTICAL
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POR DENTRO

Principais características

Excitação adaptativa

Diferentes condições de excitação, polarizadores e filtros são selecionados para aumentar a sensibilidade na região espectral de interesse e reduzir interferências.

Detector SDD de alto desempenho

Detector Silicon Drift Detector (SDD) refrigerado por Peltier, com resolução espectral de até ≤130 eV para Mn Kα e taxa de contagens de entrada de até 1 milhão de cps.

TurboQuant II

Permite realizar screening multielementar de amostras desconhecidas sem necessidade de desenvolver previamente uma calibração específica para cada tipo de material.

Análise multicamadas

A geração atual amplia o campo de aplicação para determinação da composição e espessura de até 8 camadas sobre um substrato, abrangendo até 55 elementos.

Alta produtividade

Diferentes bandejas e sistemas de rotação de amostra permitem automatizar sequências de medição e melhorar a representatividade de materiais heterogêneos.

Tecnologias inovadoras
Tecnologias inovadoras
Compacto
Compacto
MÉTODOS ANALÍTICOS

Normas e métodos de referência

A tecnologia EDXRF do SPECTRO XEPOS é aplicável a diversos métodos internacionais para análise de combustíveis, cimento, carvão, materiais industriais e outras matrizes.

ASTM D4294

Enxofre em petróleo e derivados — Determinação de enxofre em petróleo e produtos derivados por fluorescência de raios X por dispersão de energia.

ASTM C114

Análise química de cimento — Determinação quantitativa da composição química de cimentos conforme critérios do método de referência.

ISO 13032 / ASTM D7220

Ultrabaixo teor de enxofre em combustíveis — Determinação de baixas concentrações de enxofre em combustíveis automotivos por fluorescência de raios X.

ASTM D4326

Elementos em cinzas de carvão e coque — Determinação por XRF de elementos majoritários e minoritários em cinzas provenientes de carvão e coque.

FICHA TÉCNICA

Especificações

  • Tecnologia EDXRF — Fluorescência de Raios X por Dispersão de Energia
  • Versões disponíveis XEPOS D · XEPOS C · XEPOS P · XEPOS HE
  • Fonte de excitação Tubo de raios X com ânodo de liga Pd/Co e refrigeração a ar
  • Potência máxima 50 W
  • Tensão máxima D / C / P: até 50 kV · HE: até 60 kV
  • Sistema de excitação Excitação adaptativa com filtros otimizados
  • Polarizador HAPG C / P / HE: maior sensibilidade para elementos na faixa Na–Cl
  • Filtro band-pass P / HE: desempenho otimizado especialmente na faixa K–Mn
  • Detector SDD refrigerado por Peltier
  • Resolução espectral ≤130 eV FWHM para Mn Kα
  • Taxa de contagens Até 1.000.000 cps
  • Faixa de elementos Dependente da configuração; nas versões P e HE, a opção de janela de baixa energia permite estender a faixa qualitativa até C e a análise quantitativa até F
  • Atmosfera de análise Vácuo ou atmosfera de hélio, conforme aplicação
  • Bandejas de amostras Até 12 posições para amostras de 32/40 mm ou 25 posições para amostras de 20 mm
  • Rotação da amostra Disponível para amostras de 40 mm; padrão no XEPOS HE
  • Dimensões (A × L × P) 465 × 618 × 730 mm
  • Câmara de amostra (A × L × P) 45 × 372 × 253 mm
  • Peso Aproximadamente 65 kg
  • Alimentação elétrica 90–253 VAC · 50/60 Hz
  • Consumo elétrico Aproximadamente 1.200 W, incluindo bomba de vácuo
  • Temperatura de operação 15–30 °C
  • Faixa recomendada para desempenho especificado 20–25 °C
  • Umidade relativa <80% a 25 °C; <75% a 30 °C, sem condensação
ANTES DE DECIDIR

Dúvidas comuns sobre o produto

O equipamento pode analisar sólidos, líquidos e pós, incluindo materiais geológicos, minérios, cimento, produtos petroquímicos, solos, resíduos, alimentos, produtos químicos, metais e diversas outras matrizes.
As configurações utilizam diferentes combinações de excitação. O XEPOS D utiliza excitação direta; os modelos C, P e HE adicionam polarização HAPG para melhorar a análise de elementos leves; e os modelos P e HE também incorporam filtro band-pass para aumentar o desempenho em elementos intermediários. O HE é a configuração de maior desempenho, incluindo tubo de até 60 kV e recursos adicionais no sistema de detecção.
Não necessariamente. O TurboQuant II permite realizar screening de materiais desconhecidos utilizando modelos pré-configurados. Para análises quantitativas de maior precisão, podem ser utilizados métodos de parâmetros fundamentais ou calibrações específicas para a aplicação.
Depende da aplicação. Muitas amostras podem ser analisadas com preparação mínima. Para análises quantitativas de alta precisão, materiais em pó podem ser preparados como pastilhas prensadas ou pérolas fundidas, reduzindo efeitos de granulometria e heterogeneidade.
PARA LEVAR À DECISÃO

Downloads

Catálogo SPECTRO XEPOS

Visão geral das tecnologias de excitação adaptativa, detecção SDD, TurboQuant II e principais aplicações do equipamento. – PDF
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SPECTRO XEPOS — Manual do usuário

Manual completo com informações de instalação, operação, manutenção e segurança do equipamento.
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Camadas SPECTRO XEPOS

Material dedicado à análise de camadas e revestimentos, incluindo determinação de espessura e composição multicamadas.
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